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描述:3506-10 LCR測(cè)試儀 對(duì)應(yīng)1MHz測(cè)試, 低容量,高精度,高速測(cè)試● 模擬測(cè)量時(shí)間0.6ms(1MHz)的高速測(cè)量● 提高了抗干擾性,在產(chǎn)線(xiàn)的上也能實(shí)現(xiàn)高反復(fù)精度● 1kHz、1MHz測(cè)量下,低電容的貼片時(shí)可穩(wěn)定測(cè)量● 根據(jù)BIN的測(cè)定區(qū)分容量
標(biāo)題:3506-10 LCR測(cè)試儀
產(chǎn)品概述
3506-10 LCR測(cè)試儀
對(duì)應(yīng)1MHz測(cè)試, 低容量,高精度,高速測(cè)試
● 模擬測(cè)量時(shí)間0.6ms(1MHz)的高速測(cè)量
● 提高了抗干擾性,在產(chǎn)線(xiàn)的上也能實(shí)現(xiàn)高反復(fù)精度
● 1kHz、1MHz測(cè)量下,低電容的貼片時(shí)可穩(wěn)定測(cè)量
● 根據(jù)BIN的測(cè)定區(qū)分容量
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